МОСКВА, 4 дек — РИА Новости. Ученые Томского политехнического университета (ТПУ) совместно с коллегами из Германии разработали новый метод поиска дефектов в полупрозрачных материалах. По словам исследователей, точность измерения при применении разработанного способа с использованием нейросети будет превосходить все другие методы. Результаты исследования опубликованы в журнале Journal of Nondestructive Evaluation.Стеклопластик представляет собой композит (прим. ред. — материал из нескольких компонентов), состоящий из полимерной матрицы, армированной стекловолокном. Он широко используется в авиакосмической промышленности, автомобилестроении, энергетике и других отраслях, поскольку обладает хорошим соотношением прочности и массы. Неотъемлемой частью производства и эксплуатации любых современных материалов, включая и стеклопластик, является неразрушающий контроль – анализ прочности, надежности и других характеристик, а также обнаружение структурных дефектов в объекте без его выведения из строя либо разрушения.
Источник: